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专利介绍
平台严控核验 保障专利真实有效
基本信息
一种考虑整体度量的实测光谱曲线中异常光谱的剔除方法
| 申请号 | CN201410264087.3 | 分类号 | |
|---|---|---|---|
| 申请日期 | 2014-06-13 | 有效期 | |
| 公开日期 | 2016-04-13 | 公开号 | CN104062008A |
| 发明人/设计人 | 詹**缘 | 权利人 | 武*学 |
| 专利类型 | 未知 | 十象顾问 | 刘欢 联系TA |
摘要介绍
本发明公开了一种考虑整体度量的实测光谱曲线中异常光谱的剔除方法，用局部度量欧氏距离ED、余弦角CA和整体度量光谱信息散度SID的值，进行归一化处理后计算表达式(ED×SID)/CA的值，人工确定阈值之后提出表达式(ED×SID)/CA位于阈值上方的光谱点，完成异常光谱的剔除。还可以在二维平面上以阈值为纵坐标，确定一个阈值线，在以光谱编号和表达式(ED×SID)/CA的值建立的二维平面散点图上剔除阈值线之上的光谱点，完成异常光谱的剔除。本发明加入光谱信息散度SID可定量表征光谱整体相似性。从光谱局部与整体性区分其与标准光谱集之间的差异，弥补了传统利用距离、角度度量不能区分光谱整体相似性的问题。
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