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专利介绍
平台严控核验 保障专利真实有效
基本信息
基于双F-P干涉仪的比值条纹计数法及其位移传感器解调系统
申请号 | CN201310293379.5 | 分类号 | |
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申请日期 | 2013-07-12 | 有效期 | |
公开日期 | 2016-07-06 | 公开号 | CN103335600B |
发明人/设计人 | 黎**晖 | 权利人 | 武*学 |
专利类型 | 未知 | 十象顾问 | 刘欢 联系TA |
摘要介绍
本发明提供了一种基于双F-P干涉仪的比值条纹计数法及位移传感器解调系统,将两路干涉光强信号直接相除,所得比值滤去直流项后随F-P腔的腔长变化过程中产生正负脉冲,通过脉冲的正负判断F-P腔长增大或减小,光程差改变一个波长时,计数器计数2次。对应的位移传感器解调系统包括激光器、光纤隔离器、第一光纤耦合器、第二光纤耦合器、第三光纤耦合器、传感单元、光电探测器、前置放大单元、DSP信号处理模块与外设显示单元。本发明具有以下有益效果:省去传感器类型标定、运算和判向过程,降低解调算法复杂度;比值条纹计数法的理论精度是一般条纹计数法的2倍;先天抗干扰,通过DSP信号处理模块实现测量仪器小型。
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